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首頁 > 產(chǎn)品中心 > 涂裝檢測 > 涂層測厚儀 > 德國EPK MiniTest1100涂層膜厚儀

涂層膜厚儀

簡要描述:德國EPK MiniTest1100涂層膜厚儀/測膜儀是minitest系列中Z經(jīng)濟型的一款,可以配備所有系列探頭,EPK MiniTest1100配備磁性探頭可以測量磁性金屬基體上面的非磁性涂鍍層;配備渦流探頭可以測量非磁性金屬基材上面的非導電涂層。

  • 產(chǎn)品型號:德國EPK MiniTest1100
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-07-08
  • 訪  問  量:1530
產(chǎn)品詳情

德國EPK MiniTest1100涂層膜厚儀/測膜儀系列MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;EPK(Elektrophysik)MiniTest系列所有型號均可配所有探頭。
德國EPK MiniTest1100涂層膜厚儀/測膜儀技術(shù)規(guī)格:

型號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量

應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設寬容度極限值)

 

1

10

99

可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)

 

1

500

500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

德國EPK MiniTest系列統(tǒng)計計算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar

 

讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar

 

 

組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

 

 

 

分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值

 

 

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

 

德國EPK MiniTest系列其他功能

設置極限值

 

 

連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

 

 

連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

 

 

連續(xù)測量模式中顯示zui小值

 

 

德國EPK MiniTest1100/測膜儀

德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù):所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率半徑
(/)

zui小測量
區(qū)域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸




 

 

 

 

 

 

 

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm



 

 

 

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm




 

 

 

 

 

 

 

 

 

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

F1.6/90、F2/90N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

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