X射線熒光鍍層無損測厚儀
簡要描述:X射線熒光鍍層無損測厚儀/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5是基于X射線熒光技術(shù),該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的Ti22到U92。
- 產(chǎn)品型號:MAXXI 5 COMPACT 5
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時間:2024-07-08
- 訪 問 量:1599
X射線熒光鍍層無損測厚儀/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5是鍍層測厚和材料分析的通用儀器,能提供目前zui高的性價比。他們是既能滿足*功能性,又能滿足zui高的檢測精度的理想工具。擁有強(qiáng)大的無標(biāo)樣分析軟件,可通過無標(biāo)樣分析方法直接檢測單層、雙層膜層厚度,無需購備過多標(biāo)樣,節(jié)省費(fèi)用。
X射線熒光鍍層無損測厚儀/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5操作軟件介紹:
X-Master是一款具備龐大應(yīng)用功能并被成功使用的軟件,更多新的應(yīng)用正不斷地加入進(jìn)來。
可選軟件模塊
µ-Master 用于鍍層厚度測量
Element-Master 用于材料分析
Report-Master 用于微軟報告文件
Data-Master 用于數(shù)據(jù)庫管理
%-Master 用于材料分析(珠寶)
Liquid-Master 用于電鍍液分析
/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5規(guī)格介紹:
1、鍍層和成份分析
鍍層:zui多同時測定5層(4層鍍層+基體材料) •成份:zui多同時測定20種元素
2、X射線激發(fā)
50kV、1.2mA (60W)高壓發(fā)生器
微聚焦W靶X射線管
3、探測器
封氣正比例計數(shù)器
25mm2 半導(dǎo)體(Si-PIN) 探測器,Peltier電制冷
4、數(shù)字脈沖處理器
4096 通道、數(shù)字式多道分析器
含死時間校正和脈沖堆積清除的自動數(shù)字信號處理器
5、準(zhǔn)直器
單準(zhǔn)直器任選:0.2mm x 0.5 mm, 0.3 mm, 0.4 mm, 0.5 mm Ø
多準(zhǔn)直器程控交換:0.1 x 0.7mm, 0.2 x 0.7mm, 0.3mm,0.5mm Ø (可選件)
/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5優(yōu)勢
操作簡單
無損檢測只需幾秒鐘
為質(zhì)量保證和過程控制提供單層或多層分析
用于優(yōu)化電鍍液控制的金屬離子含量分析
以X射線熒光技術(shù)進(jìn)行無損分析
市場上zui高性價比
自動化批量檢測:XYZ
應(yīng)用行業(yè):電子,珠寶,金屬加工
/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5樣品臺規(guī)格:
X-Y 手動樣品臺:600 x 600 mm; zui大承重25 kg;zui大樣品高度175 mm 或者350 mm可調(diào)
X-Y 程控樣品臺:X-Y臺面尺寸300 mm x 250 mm;zui大承重5 公斤;程控距離X=300,mm Y=250 mm(可選件)
程控Z 軸移動距離:180mm;可使用鼠標(biāo)或者手柄控制
其他規(guī)格:
1、計算機(jī)/顯示屏/操作系統(tǒng)
In Pentium G2030, 2G RAM, 500G硬盤(配置相當(dāng)或者更高)
19" TFT 平板彩色顯示器
MicrosoftTM Windows7 32 bit
2、成像系統(tǒng)
彩色視頻系統(tǒng)
20 倍放大倍數(shù)
被測樣品圖像實(shí)時顯示功能
電腦顯示屏具有畫中畫功能
3、工作環(huán)境要求
50F (10C) - 95F (35C)
zui高98%相當(dāng)濕度(無冷凝水)
推薦在空調(diào)環(huán)境中使用
4、zui大樣品尺寸(長x 寬x 高)
X-Y 手動樣品臺: 600 x 500 x 350 mm
X-Y 程控樣品臺: 600 x 500 x 350 mm
5、儀器外形尺寸(長x 寬x 高)
700 x 770 x 700 mm
重量: 90 kg
測定元素范圍Ti22 - U92
電源要求 110 V / 230 V 60 Hz / 50 Hz