fischer熒光鍍層分析儀x-ray X-RAY XUL-XYm全稱(chēng)FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm，德國(guó)*，比同系列產(chǎn)品FISCHERSCOPE® X-RAY XUL多了手動(dòng)可調(diào)節(jié)平臺(tái)。主要用于測(cè)量鍍層厚度，分析鍍層和溶液（電解液）的成分（成份）

型號(hào)：X-RAY XUL-XYm

更新日期：2024-07-08

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X射線熒光鍍層測(cè)厚儀又名x-ray光譜儀，x射線合金測(cè)厚儀，射線熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無(wú)損測(cè)量細(xì)小零部件上的鍍層厚度和成分分析。

型號(hào)：XULM XULM-XYm

更新日期：2024-07-07

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X-RAY鍍層測(cè)厚儀或稱(chēng)射線分析儀，德國(guó)*，全稱(chēng)為FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210，可以測(cè)量電鍍層例如：銅、鎳、鉻、鋅、錫、鈦、金、銀或者合金比如鋅鎳合金等等的鍍層厚度以及成份，還可以進(jìn)行電解液（電鍍?nèi)芤海┑臏y(cè)成份分析

型號(hào)：FISCHERSCOPE XDL210

更新日期：2024-07-07

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HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過(guò)17年的經(jīng)驗(yàn)。通過(guò)對(duì)所有相關(guān)過(guò)程包括X射線熒光測(cè)量法的處理和使用了的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)

型號(hào)：FISCHER

更新日期：2024-07-07

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